本發明提供一種用于識別模擬電氣系統中的信號的裝置、方法和計算機程序產品。控制信號識別電路的時序的ＩＤ選擇信號包括遞增計數并且標識相應信號的順序數字。要被識別的信號位于一組輸入／輸出（Ｉ／Ｏ）引腳上。一個多路復用器（第一）響應ＩＤ選擇信號...

公開了一種制造后的集成電路器件的晶片／探針測試方法和系統。以測試初始的一組器件（例如集成電路芯片），產生未能通過該測試的初始的一組不合格器件，開始本發明。依據不合格的類型識別初始不合格組中的器件。隨后，本發明重新測試初始不合格組中的器件...

在第一方面中，提供了一種測試或分析集成電路（ＩＣ）的方法。該方法包括以下步驟：（１）根據描述所述集成電路的網表來生成與所述集成電路的組件之間的相依性有關的信息；以及（２）通過以下步驟中的至少一個步驟來簡化所生成的信息：（ａ）合并與具有公...

公開了波形測量裝置及其方法。在電信號波形的測量中實現多種特征的測量，包括關于激振的峰到峰振幅。波形測量裝置包括：數字濾波器（１０），用于從輸入信號中去除大振幅變化分量并輸出具有其中剩余的小振幅噪聲分量的結果信號；窗口生成部件（２０），用...

本發明公開了一種用于嵌入式存儲器陣列混合內置自測（ＢＩＳＴ）體系結構，該體系結構將ＢＩＳＴ功能性分割為遠程低速可執行指令和本地高速可執行指令。獨立的ＢＩＳＴ邏輯控制器（１１０）以低頻率工作，并利用ＢＩＳＴ指令集與多個嵌入式存儲器陣列（１...

提供一種用于集成電路（ＩＣ）的緊湊型電阻式熱傳感器，其中不同的傳感器組件被放置在該ＩＣ的不同層上。在有利的實施方式中，將多個第一線性導電構件以相互間平行間隔開的關系定位于第一ＩＣ層中。類似地，將多個第二線性導電構件以相互間平行間隔開的關...

一種用于提供多內核集成電路芯片的設備和方法，由于使用單電壓層，其減少了芯片的成本同時優化了內核的性能。說明性實施例的設備和方法利用優化芯片上的所有內核以在單電壓下以峰值性能運行的動態老化技術。使用在整個芯片上提供統一功率和性能的定制老化...

本發明涉及實現高速測試電路的掃描鏈和方法。其中，包括多個掃描單元的邊界掃描電路，每個掃描單元包含兩個用于存儲相應的測試值的掃描寄存器。在片上和片間測試期間，其中一個掃描寄存器響應于功能時鐘信號，使得測試單元生成具有在該功能時鐘信號的速度...

公開了一種用于帶有掃描通道選擇的高級邏輯內建自測試的系統和方法。ＬＢＩＳＴ控制器通過順序或者交織加載技術將掃描模式加載進設備的掃描通道，以最小化瞬時功率需求。在交織加載期間，ＬＢＩＳＴ控制器將掃描比特加載進第一掃描鏈，然后加載進第二掃描...

本發明描述了在ＬＳＳＤ系統中對測試時鐘進行同步的方法以實現時鐘信號近乎同時到達所有ＬＳＳＤ寄存器的輸入。該方法依賴于管道敷設鎖存器以分配測試時鐘，其中所有的管道鎖存器均由系統時鐘同步。該增強改進了測試時鐘切換的頻率并通過降低測試時間而改...

集成電路器件中的開關延遲歷史效應的在線測量技術。將脈沖發下延遲鏈。該脈沖與環形振蕩器的信號基本上同步。對于對應于延遲鏈的遠端的環形振蕩器上的確定點，延遲鏈和環形振蕩器包括基本上相同的門。當脈沖到達延遲鏈的遠端時，測量環形振蕩器中的信號沿...

本發明涉及一種在集成電路上使用至少一個ＬＢＩＳＴ引擎執行測試用例的方法，該集成電路具有多個根據預定方案互連的存儲元件（１０、１２）和邏輯電路（１４、１６、１８；３０）。ＬＢＩＳＴ引擎至少部分地由出于功能目的提供并在集成電路中可用的存儲元...

本發明提供了一種用于提供受控的訪問部分掃描鏈和／或從其退出的方法、裝置和程序產品。該方法、裝置和程序產品利用置于掃描鏈中要控制的掃描鏈部分之前的第一控制器件、置于掃描鏈中要控制的掃描鏈部分之后的第二控制器件、以及耦合到第一控制器件和第二...

本發明涉及一種基于模型化和非模型化錯誤的重復測試生成和診斷方法。具體地說，涉及可應用于結構ＶＬＳＩ設計以解決與錯誤測試器交互模式生成關聯的問題的診斷和特征描述工具以及在實現更高故障分辨能力的同時有效降低診斷測試時間的方法。經驗故障數據驅...

本發明涉及用于測試電子設備中最小運行電壓的方法和裝置在一個實施例中，一種測試系統測試被測設備（ＤＵＴ）。ＤＵＴ包括執行內建自測（ＢＩＳＴ）程序的內部測試控制器。內建自測程序包括基于陣列的自動內建自測程序、離散和組合邏輯內建自測程序、以及...

用于根據性能／功率要求確定最小操作電壓的解決方案將對于廣闊范圍內的實際使用都有效。該解決方案包括用于通過ＢＩＳＴ電路（５０）動態降低在應用條件下的功率消耗而保持應用性能的測試流程方法。另外提供了用于在應用條件下動態降低功率消耗到仍將足夠...

提供了一種用于高頻測量的芯片式探測器和測量方法。該探測器包括探針、電壓和控制連接器、芯片載體以及可編程端接芯片。將探針配置為接觸被測裝置。電壓和控制連接器與探針進行電通信。可編程端接芯片具有多個通過受控坍塌芯片連接與電壓和控制連接器以及...

本發明提供了現場可編程門陣列（ＦＰＧＡ）、用于調試現場可編程門陣列的系統、用于調試現場可編程門陣列的方法、ＦＰＧＡ配置數據產品以及配置ＦＰＧＡ的方法和系統。根據本發明的一個方面，提供了一種現場可編程門陣列（ＦＰＧＡ），具有待測邏輯單元，...

提供了一種用于電子裝置的探針結構的技術。一方面，該探針結構包括具有橫貫其平面的一個或多個接觸結構的電學絕緣載體。各個接觸結構包括一種彈性體材料，其具有沿其至少一個表面連續地伸展穿過載體平面的導電層。該探針結構包括用于連接到測試設備的一個...

一種集成電路，其包含用于產生觸發標志信號的至少一個隧穿裝置電壓檢測電路。隧穿裝置電壓檢測電路包含第一與第二分壓器，其接收供電電壓并具有對應的相應第一與第二內節點輸出電壓。第一與第二分壓器被配置為使得第一輸出電壓相對于供電電壓是線性的，并...