本申請(qǐng)公開(kāi)了一種垢層厚度檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),方法包括:在預(yù)設(shè)溫度下獲取基準(zhǔn)濕度數(shù)據(jù)和多個(gè)像素點(diǎn)的基準(zhǔn)溫度數(shù)據(jù);基準(zhǔn)濕度數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)溫度數(shù)據(jù)為待檢測(cè)腔體為無(wú)垢狀態(tài)下的濕度數(shù)據(jù)和溫度數(shù)據(jù);在預(yù)設(shè)溫度下獲取當(dāng)前濕度數(shù)據(jù);在當(dāng)前濕度數(shù)...