本發(fā)明提供一種芯片設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法及裝置,所述方法包括:通過(guò)目標(biāo)虛擬序列生成器接收目標(biāo)測(cè)試用例的參數(shù),確定目標(biāo)測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的場(chǎng)景,并確定所述場(chǎng)景對(duì)應(yīng)的目標(biāo)模塊;通過(guò)與目標(biāo)模塊對(duì)應(yīng)的目標(biāo)模塊序列生成器調(diào)用對(duì)應(yīng)的目標(biāo)模型序列生成器;通過(guò)目標(biāo)模...