本發明提供一種通過vcell自動生成PDK基礎庫的器件視圖的裝置、方法以及計算機可讀存儲介質，包括；接收用于設定一個或多個器件的配置參數的指令輸入，所述配置參數包括所述器件的物理參數和/或功能參數；對基于利用TCL指令在vcell函數中...

本發明提供了一種面向對象的參數化單元設計方法，包括以下步驟：1）制作設計單元對象庫；2）創建設計單元對象；3）對設計單元對象的屬性進行參數定義；4）評估定義后的設計單元對象；5）生成參數化單元以及設計腳本。本發明提供以版圖設計的概念為基...

一種用于集成電路設計中選取訓練數據的方法，包括以下步驟：1）采用數據庫VT分布策略和cell的挑選策略初始化Liberty文件，選擇訓練種子；2）采用機器學習方法預測剩余Liberty文件，提取出預測結果；3）判斷所述預測結果是否滿足迭...

一種基于局部DRC的版圖修改驗證快速迭代方法，包括以下步驟：篩選每次修改的局部版圖信息和對應部分規則，并進行局部DRC；通過分層模式或區域模式對所述局部DRC進行版圖篩選；將每次局部DRC得到的結果反饋到原始DRC結果中，移除修改通過的...

本發明提供了一種用于參數化單元的腳本生成方法，包括以下步驟：1）導入版圖設計類別，其中所述版圖設計類別包括幾何圖形類、實體運算類和屬性類；2）定義參數化單元的參數屬性與默認值；3）通過定義評估函數，進行參數化單元內容的設計；4）呼叫全局...

一種自治射頻電路的包絡分析二階漸近近似方法，包括以下步驟：計算包絡分析的一階漸近近似解；在周期化網格上計算線性化算子的右0

一種自治射頻電路的包絡分析一階漸近近似方法，包括以下步驟：設置自治電路方程中的調制信號參數，將未知函數標準化為2π周期函數，得到含參特征系統；將所述調制信號參數進行周期化；在周期化的均勻網格上計算出所述含參特征系統的一族周期穩態解；計算...

一種計算大規模電阻網絡等效電阻分布的方法，包括以下步驟：1）對版圖進行電阻提取，建立電阻網絡，根據提取的電阻網絡構建導納矩陣G，建立等效電阻計算矩陣GX=B，其中B矩陣的對角線元素除第p行對角線外均為1，第p行元素除對角線元素以外均為

本發明提出一種打包測試裝置，包括：獲取部，其經由互聯網或無線網絡從一個或多個客戶端接收或下載程序代碼；處理部，所述處理部包括：打包模塊，其對從所述獲取部獲取的程序代碼打包，并自動生成與所述程序代碼打包相關聯的庫文件，所述庫文件包含一個或...

本發明提供一種電路版圖中的提取電容自動定位裝置，包括；獲取部，其用于獲取集成電路版圖，所述集成電路版圖包含K(K≥2)層金屬布線；提取部，其用于提取所述集成電路版圖中的多個金屬布線中的至少兩個金屬布線之間的電容值，并將該集成電路版圖的設...

一種mos管導通情況下的電容提取方法，包括以下步驟：1）根據版圖中的半導體圖形，獲取其連通的源極網絡和漏極網絡；2）將半導體圖形分別與源極網絡和漏極網絡圖形做交，并將相交圖形進行屬性標記；3）對半導體圖形與源極網絡和漏極網絡不相交的圖形...

一種GaN HEMT的ASM模型直流參數提取方法，其特征在于，包括以下步驟：1）給定器件的工藝參數；2）提取電容_電壓關系曲線相關參數：通過逆導電容_漏電壓曲線、輸出電容_漏電壓曲線、輸入電容_漏電壓曲線、柵極電容_柵電壓曲線提取相關參...

本公開提供了一種用于版圖驗證的標識處理方法、裝置、服務器和存儲介質，能在獲取系統端接收的輸入指令后，識別該輸入指令中目標版圖圖形的位置信息；并在確定前述目標版圖圖形的標識名稱后，根據系統端接收的輸入參數，確定該目標版圖圖形標識的姿態信息...

本申請實施例提供了一種測試方法及裝置、測試系統、電子設備，測試方法包括：獲取可識別的測試job，每個測試job封裝有多個測試用例；確定運行所述測試job的測試服務器的實時負載；根據所述實時負載，生成測試策略配置，所述測試策略配置至少包括...

一種網表器件參數計算方法，包括以下步驟：1）對版圖中的所有單元按調用關系進行拓撲排序，生成拓撲單元列表；2）按拓撲序遍歷所有單元，生成器件組并更新哈希表；3）重新遍歷所有單元，計算每個單元的哈希表中的器件組的NFM屬性；其中，NFM屬性...

一種版圖對比中驗證單位版圖的排序方法，包括以下步驟：1）制定配置文件；2）定義測試文件；3）讀取測試文件，生成重疊的測試版圖并確定版圖編輯工具的畫布尺寸；4）確定測試單元個數尺寸和標準單元行數和列數；5）比較總版圖尺寸是否大于版圖編輯工...

本申請實施例提供了一種BSIM

一種快速的老化仿真分析方法，包括以下步驟：基于MOSFET建立宏模型；建立宏模型的SPICE網表，設置表征MOSFET特征參數受BTI效應和/或HCI效應的時間積累效果的節點參數；通過SPICE仿真得到時序電路隨著老化時間推移的特征變化...

一種SPICE電壓或溫度掃描仿真篩選瓶頸單元的方法，包括以下步驟：1）從原始時序路徑數據集中篩選出STA時序違例的時序路徑數據子集；2）對所述時序路徑數據子集的每一路徑進行SPICE仿真，篩選出關鍵路徑集；3）對所述關鍵路徑集的元素進行...

本申請公開了一種電路元器件單元的映射方法、裝置和電子設備，該方法包括：獲取第一電路元器件單元庫中的多個第一單元和第二電路元器件單元庫中的多個第二單元；根據所述第一單元在所述第一電路元器件單元庫中的第一標識信息和所述第二單元在所述第二電路...