本申請公開了一種檢測方法、裝置、存儲介質及電子設備，涉及芯片技術領域，包括：獲取表示待檢測堆疊通孔位置的目標坐標對集合和表示待檢測金屬層包含的導線位置的待檢測坐標對集合；依據待檢測坐標對集合建立RTree索引結構；基于目標坐標對集合在R...

本申請公開了一種磁盤空間的檢測方法、裝置、存儲介質及電子設備，涉及數據處理技術領域，包括：響應于接收到進行仿真的指令信息，執行預定檢查命令對用于存儲仿真結果的目標磁盤進行磁盤空間檢查；基于磁盤空間檢查結果，確定目標磁盤的已使用空間和磁盤...

本公開是關于一種電阻網絡的建立方法、裝置、計算機設備及介質。電阻網絡的建立方法包括：確定初始電路中第一電阻網絡的內部節點的第一等效矩陣，內部節點為電阻與電阻電連接的節點；對第一等效矩陣進行約簡處理，得到用于反映第二等效矩陣的特征信息，第...

本發明涉及一種應用在面板生產領域的跨層堆膠預防方法，屬于顯示面板生產技術領域，包括：收集各類圖形在光刻膠上的實際量測數據A，收集各類圖形堆膠位置的實際量測數據B；制備OPC模型和制備第二模型；根據設計需求制備設計版圖，利用OPC模型產生...

一種平板顯示器的光刻工藝優化方法，包括：利用不同規格尺寸的測試圖形跟隨當前產品完成第一光罩制作；收集所述第一光罩在多個不同曝光能量條件下的曝光數據，并建立工藝窗口模型；使用所述工藝窗口模型，給出下一支產品的最佳曝光能量以及增加10％～5...

本申請提供預測布通率進行電路布圖的方法、布通率預測模型的訓練方法，預測布通率進行電路布圖的方法包括：確定電路版圖樣本在當前布局下的網表信息，以根據網表信息生成關聯矩陣樣本，關聯矩陣樣本用于表述當前布局；確定電路版圖樣本在當前布局下各個電...

一種S參數的壓縮方法，包括以下步驟：輸入需要壓縮的S參數矩陣、需要壓縮的端口集合和壓縮類型；根據所述集合對所述S參數矩陣進行行列置換，得到置換后的S參數矩陣；根據置換后的S參數矩陣和壓縮類型，采用對應的計算模型壓縮S參數。本發明的壓縮方...

本申請公開了一種基于S參數的數據處理方法、裝置及電子設備，涉及無源器件的S參數建模技術領域。方法包括：獲取初始數據集，并基于初始數據集的初始頻率范圍進行矢量擬合處理，得到初始參數；確定延拓頻率范圍；延拓頻率范圍高于初始頻率范圍；基于初始...

本實施例提供的方案中一種GaN?2DEG電阻模型精確提取方法，其包括：設置GaN基2DEG器件的工藝參數和模型參數，得到所述GaN基2DEG器件的完整模型描述；基于所述GaN基2DEG器件的完整模型描述，提取所述GaN基2DEG器件中2...

本公開是關于一種設計參數確定方法、裝置、計算機設備及存儲介質。該方法包括：基于初始版圖和初始版圖的工藝文件，設置不同的多組設計參數，每組設計參數包括布局參數和工藝參數，布局參數包括初始版圖中的工藝層的位置參數和尺寸參數，工藝參數包括工藝...

本公開是關于一種布線方法、裝置、計算機設備及存儲介質。該方法包括：獲取與電路關聯的布線約束信息，所述電路中包括多個器件，所述布線約束信息包括所述多個器件的幾何約束和電氣約束；基于所述布線約束信息和連接線的屬性信息，采用所述連接線連接所述...

本申請公開一種基于整數約束將集成電路物理版圖中非45°斜邊修復為45°斜邊的方法及電子設備，其包括：對每個封閉圖形進行分割，以確定每個封閉圖形的最長連續斜邊鏈；針對每條最長連續斜邊鏈上的所有頂點，確定每個頂點的有效活動范圍：基于構建的整...

本申請公開一種集成電路物理版圖中將非45°斜邊修復為45°斜邊的方法，其包括：對每個封閉圖形進行分割，以確定連通該每一頂點的最長連續斜邊鏈；對該每條最長連續斜邊鏈上的每個頂點的原始坐標進行仿射變換，得到每個頂點的仿射變換坐標；根據不同頂...

一種線性方程組求解算法的優化方法，包括以下步驟：獲取線性方程組的系數矩陣和右端項、所述系數矩陣的LU分解矩陣，采用改進解算法求解所述線性方程組；所述改進解算法，包括：i＝0；r＝b?Ax<subgt;0</subgt;；Wh...

一種Nport建模過程中計算時域信號卷積的方法，包括以下步驟：通過插值的方法對離散的沖激響應頻譜進行插值，得到均勻頻點上的頻譜；對所述均勻頻點上的頻譜加窗函數調制，得到加窗后的頻譜；對加窗后的頻譜進行頻率延拓后，通過傅里葉逆變換得到時域...

本公開是關于一種基于關鍵路徑的時鐘樹綜合處理方法、裝置、設備及介質。所述方法包括：確定芯片中的關鍵路徑；其中，所述芯片包括多個模塊以及多個IP；基于所述關鍵路徑，調整所述芯片中的所述模塊和/或所述IP的位置，得到更新后的芯片布局；基于所...

本公開是關于一種基于模擬退火算法的電路布局方法、裝置、設備及介質。該方法包括：獲取電路的第一布局的第一布線信息；第一布線信息包括擁塞信息和/或交叉信息；基于第一布線信息更新第一布局，得到更新后的第一布局；基于第一布局和更新后的第一布局，...

本公開是關于一種影響系數的確定方法、裝置、計算機設備及存儲介質。影響系數的確定方法包括：獲取第一預設參數的第一參數值和第二預設參數的第二參數值，根據第一參數值和第二參數值，確定第三預設參數的第三參數值；響應于第一參數值、第二參數值和第三...

一種利用RLC電路實現傳輸函數的方法，包括：將仿真模型降階的傳輸函數拆分為包含頻率高階項的第一多項式和包含常數項以及有理真分式之和的第二多項式；計算所述第一多項式等于零的根；根據所述第一多項式及其所有根的集合，計算所有根對應的系數的集合...

本申請涉及一種信號線的處理方法、裝置及電子設備，涉及電路設計技術領域，其中方法包括首先獲取信號線所在的layer信息；然后基于layer信息，在信號線的上一layer創建第一保護Shield?Path，以及在信號線的下一layer創建第...