一種用于鑒別透明平板材料中的瑕疵的方法，所述方法包括以下步驟：　　　　使用能發射光束的發光器；　　　　使用第一透鏡，用于接收光束并發射通過透明平板材料的一部分的平行光束；　　　　使用行掃描傳感器，用于接收所述通過透明平板材料的一部分的平...

一種用于使用偏振光時域反射儀來篩選光纖偏振模色散的方法。將脈沖輻射發射到待測光纖中，并通過ＰＯＴＤＲ測量反向散射輻射并將其用于獲得ＰＯＴＤＲ蹤跡。獲得多于一個的ＰＯＴＤＲ復合蹤跡。然后對復合蹤跡進行分析以比較沿光纖長度的信號變化，該信號...

揭示了一種約束微型板位置的機構。該機構由基部限定，所述基部具有至少一個表面，該表面有用于將微型板插入基部的容器。基部的表面上的支承件和／或定位結構具有點接觸件以在穩定位置約束微型板的運動，以進行可重復的光學探測測量。支承件和／或定位結構...

本文描述了篩選系統和方法，所述系統和方法提供了一種獨特的和實用的方案，使得可進行無標記高通量篩選（ＨＴＳ），以有助于新藥開發。在一個實施方式中，該篩選系統能夠進行直接結合試驗，其中，采用與當前制藥工業中所用的ＨＴＳ相兼容的試驗體積和濃度...

線性或二維光譜儀的典型用途是使檢測區域（１０２）曝光，之后使光－電電荷依次從該裝置中移出。如果照射信號（１１８）相對于陣列尺寸在空間上較窄，這將降低檢測器被使用的百分比，因為只有相對少量的像素被用于檢測光束。本申請提出一種方法，利用空間...

一種用于檢測蜂窩結構體中的缺陷的系統、裝置和方法。該系統和裝置包括：夾具，適于固定蜂窩結構體；微粒流體源；管子，該管子限定一條在微粒流體源和蜂窩結構體的第一端面之間的流動路徑，由此允許微粒流體從微粒流體源流向蜂窩結構體的第一端面。微粒流...

一種用來測量玻璃板的設備。該設備包括穩定的基底，在所述基底上排列著多個可重新定位的支承部件。將玻璃片置于所述支承部件的頂上，將常規的距離測量裝置懸掛在所述玻璃片上方，所述裝置是例如激光測距裝置，其連接于用來使得所述測距裝置沿ｘ－ｙ軸和ｚ...

本文描述了一種在線厚度規（ＯＬＴＧ）和方法，能夠測量正在移動的玻璃基板的厚度。在較佳的實施方式中，該ＯＬＴＧ包括Ｙ－導向裝置和穩定單元，分別用于抓住正在移動的玻璃基板并使其穩定。該ＯＬＴＧ還包括含激光光源和檢測器的激光儀器。該激光光源朝...

本文描述一種斜照射檢查系統和方法，用于標識玻璃片上或玻璃片內（例如ＬＣＤ玻璃基板）的缺陷（例如，內含物、表面雜質、劃傷、污點、氣泡、條痕或與表面突變或材料不均勻相關聯的其它缺陷）。

描述了用于檢測分析物的支持物以及制造和利用該支持物的方法。

一種測量光纖偏振模式色散（ＰＭＤ）的系統，采用控制輸入至光纖的光的偏振狀態的偏振器和測量從光纖輸出的光的偏振狀態的偏振分析器。瓊斯矩陣分析施加于從３種輸入偏振狀態和兩種探測輻射波長中導出的數據。通過使用非相干光源如發光二極管結合兩個帶通...

所揭示的測量偏振依賴損失的裝置的特征在于一前一后組合起來并且取向使得測量系統ＰＤＬ噪聲降低至忽略不計水平的幾個光纖光學耦合器。通過匹配耦合器的ＰＤＬ并且矢量化減去偏振的相反相位，實際上消除了測量系統的ＰＤＬ。因此ＰＤＬ噪聲水平降低至零附...

揭示了一種用于測量光纖性質的設備。該設備不使用通常在測量某些波導纖維性質時需要的孔徑，透鏡和反射鏡。該設備在待測光纖的注入端使用了一個光開關，并在待測光纖的輸出端使用了另一個光開關。這些光開關對從中通過的光保持模功率分布，特別是模斑尺寸...

測量施加于光纖（１２）的應力的系統和方法，包括提供包含光纖傳感器（１４）的光纖（１２），并且通過在被測量過程中移動光纖（１２）和光纖傳感器（１４），使光纖（１２）和光纖傳感器（１４）暴露于與過程關聯的各種應力中。系統和方法還包括當光纖傳...

檢測柴油機廢氣過濾器的完整性的方法，該方法是從結構一端加壓通入空氣，檢測另一端面是否存在氣流。柴油機廢氣過濾器在進行檢測時處于生坯狀態。

揭示了一種利用偏振光學時間域反射計來篩選光纖偏振模色散的方法。將脈沖輻射發射到待測光纖的一端之中，后向散射輻射是用ＰＯＴＤＲ來測量的并且被用于獲取ＯＴＤＲ軌跡。將脈沖輻射發射到待測光纖的相反一端，并且后向散射輻射是用ＰＯＴＤＲ來測量的并...

一種方法和裝置，用于測量在向下拉制玻璃形成工藝中形成的玻璃帶的溫度和／或位移，并且在帶的寬度上進行測量。通過不與玻璃帶接觸的一種測量裝置可以有利地執行溫度和位移測量，同時具有高度的空間分辨率。實質上可以在帶的整個寬度上執行溫度測量。可以...

本發明描述了單片歐浮納分光計，以及各種部件如衍射光柵和狹縫，所有這些部件都采用現有技術的金剛石加工方法來制造。在一個實施方式中，單片歐浮納分光計直接使用金剛石加工方法制造。在另一個實施方式中，單片歐浮納分光計使用由金剛石加工方法制得的模...

本文揭示了一種系統和方法，用于通過測量并分析光學材料（例如，玻璃板）中的雙折射（例如，應力導致的雙折射，固有雙折射）來確定該光學材料的質量。該方法是一種掃描技術，其中將雙折射傳感器設置成第一光學狀態，然后該雙折射傳感器沿某一方向以恒定的...

本發明提供了一種檢測用于生產光纖的毛坯（１３）的空氣／包層和纖芯／包層分界面的方法和設備。相干光束（３０）掃描越過毛坯（１３），檢測因此產生的空間光強圖案，并進行分析。當光束朝毛坯中心移動時，空氣／包層界面相應于單峰的空間光強圖案的寬度...