本技術公開了一種定位裝置，包括承載臺、定位基準件、定位推動件和定位驅動件，承載臺設有至少兩個定位區，定位區的兩個側邊設有定位基準件，定位區的另外兩個側邊設有可移動的定位推動件，第一推動部和第二推動部用于抵接工件的兩個側面，以推動工件移動...

本技術實施例提供了一種探測裝置和一種光學檢測系統，探測裝置包括：機架；內置明場光源，設置在所述機架上，所述內置明場光源可輸出第一明場光束；鏡架，連接在所述機架上，所述鏡架上設置有二向色鏡，所述二向色鏡設于所述內置明場光源的光路上，所述二...

本技術公開了一種覆膜裝置，包括：料輪支架；料輪，料輪可轉動地設置于料輪支架，料輪用于安裝卷膜料卷；料卷側擋板，料卷側擋板固定于料輪，料卷側擋板具有至少一個沿周向凸出延伸的感應部；感應器相對料輪支架固定設置，感應器朝向料卷側擋板設置，感應...

本申請屬于半導體檢測領域，公開了一種視覺檢測相機，其包括殼體，具有容納腔室，殼體設置有進光口；成像機構，設置于容納腔室，成像機構包括鏡頭和成像元件，鏡頭與進光口對位設置，鏡頭用于將被攝對象生成的信號光聚焦至所述成像元件；調焦機構，安裝于...

本申請提供一種圖像處理方法、裝置及存儲介質，包括：獲取多個相同待測物中各待測物的待測圖像，獲取第一待測圖像的第一目標區域和第二待測圖像的第二目標區域之間的清晰度差值，根據清晰度差值獲取目標參數，若目標參數大于目標閾值，則確定第一目標區域...

本申請公開了一種物鏡檢測方法和相關裝置，在物鏡檢測系統中，在檢測器和目標物鏡之間的光路上設置了光學平板。向設置在物面臺上的靶標入射照明光，該照明光在靶標上回產生散射光場，半球形的散射光場可以適配不同數值孔徑物鏡的檢測，所以不需要該照明光...

本申請實施例公開了光束整形系統，用于以較低成本將光源發出的光束整形為均勻性較高且線寬較窄的線光斑。本申請實施例包括：光源，用于發出初始光束；第一自由曲面鏡，用于使所述初始光束中的能量均勻分布；第二自由曲面鏡，用于調整從所述第一自由曲面鏡...

一種取片點位補償方法、系統、終端設備以及存儲介質，方法包括：檢測步驟、對卡匣內的待測件進行位置檢測，獲得待測件在卡匣中的分布信息，卡匣具有沿第一預設方向設置的多層放置結構，放置結構用于放置待測件；處理步驟、對分布信息進行處理，得到每個待...

本發明涉及光學檢測設備。一種光學檢測設備，包括：傳輸單元，所述傳輸單元依次設有第一檢測工位、旋轉工位和第二檢測工位；第一檢測單元，所述第一檢測單元位于所述第一檢測工位，所述第一檢測單元用于從第一方位對待測物進行檢測；旋轉裝置，所述旋轉裝...

本技術公開一種輸送裝置及檢測設備，包括支座與輸送機構，其中，輸送機構形成依次連接的輸入段、導向傳送段和輸出段，輸入段用于向導向傳送段輸送產品，導向傳送段用于將產品導向傳送至輸出段；導向傳送段包括第一輸送模組和第二輸送模組，第二輸送模組相...

本發明公開一種調節裝置及光學儀器設備，包括支座、安裝平臺、第一調節機構與第二調節機構，其中，第一調節機構設置于所述支座與所述安裝平臺其中之一，所述第一調節裝置被配置為用于沿Z軸調節所述安裝平臺；第二調節機構設置于所述支座與所述安裝平臺其...

本申請公開了一種定位治具及具有其的檢測設備，該定位治具包括：底板，設置有治具板，治具板與底板固定連接，治具板設置有多個定位工位；定位組件，包括多個定位基準塊和多個定位壓緊塊，定位基準塊與治具板可拆卸連接，定位壓緊塊與治具板滑移配合；每個...

本技術公開一種反射機構、導光裝置及光學設備，反射機構包括機架與設置于所述機架的反射機構，其中，反光件的正面具有多個反光區域，調節組件被配置為調節反光件的位置和/或姿態，以使反光件上的任一反光區域能夠被切換至目標位置，任一反光區域在被切換...

本申請屬于機械設備技術領域，公開了一種收納裝置及處理設備，一種收納裝置包括門板、收納板以及鎖定組件，所述收納板與所述門板鉸接，所述門板設置有收納槽，所述收納槽槽底設置有磁鐵，所述收納板朝向所述收納槽的端面設置有鎖槽；所述鎖定組件包括旋鈕...

本發明涉及光學儀器領域，具體涉及一種調節裝置及干涉測量系統。調節裝置包括支座、傾斜調節座和傾斜調節件，由于傾斜調節座與支座通過球鉸結構活動連接起來，通過傾斜調節件能夠使傾斜調節件偏擺，通過傾斜調節件對傾斜調節座調節過程中，傾斜調節座受到...

一種雙焦面成像系統以及多向分束器，雙焦面成像系統，包括：照明模塊，被配置為向待測件提供照明光束，照明光束在待測件表面形成為信號光束；物鏡組件，被配置為接收信號光束，以及光學聚焦于第二待測層；分光組件，設于物鏡組件的出射光路，被配置為將信...

本申請公開了一種檢測設備，其包括機架；檢測機構，包括第一檢測組件和第二檢測組件，第一檢測組件和第二檢測組件均滑動安裝于機架；物料傳送機構，安裝于所述機架且位于檢測機構下方，用于承載待檢測產品且使待檢測產品依次經過第一檢測組件和第二檢測組...

本技術公開一種快門裝置及光學設備，包括第一殼體與快門模組，其中，第一殼體限定有第一封閉空腔，第一殼體設置有與第一封閉空腔相連通的進光孔與出光孔；快門模組設置于第一封閉空腔，具有遮光件且能夠在避讓狀態與遮擋狀態之間切換；在避讓狀態時，遮光...

本申請公開一種圖像處理方法、系統、電子設備和存儲介質，方法包括：獲得目標對象的多個區域的散射率參數；根據各個區域的散射率參數，配置各個區域對應的時間延遲積分相機采集圖像時的積分級數，每一時間延遲積分相機用于采集對應區域的區域圖像；將各個...

一種檢測方法、系統、終端設備以及存儲介質，方法包括：獲取面陣探測器的探測參數，探測參數包括曝光時間；控制面陣探測器對待測區域進行圖像采集，其中，在面陣探測器對待測區域進行一次圖像采集的過程中，控制探測光源提供一次照明，探測光源的一次照明...