本實用新型實施例公開了一種電控柜和應用該電控柜的檢測設備。所述電控柜例如包括：柜體；以及第一柜門，連接在所述柜體上；其中，所述第一柜門包括第一外柜門和第一內柜門，所述第一內柜門鉸接在所述柜體上，所述第一外柜門連接在所述第一內柜門上；所述...

一種邊緣檢測方法、裝置以及存儲介質，邊緣檢測方法包括：獲取待測物體的邊緣區域中的多個特征區域的尺寸及類型；根據特征區域中兩個待測的特征區域的類型，對應設置第一探測器的第一探測參數以及第二探測器的第二探測參數；控制第一探測器以第一探測參數...

本申請涉及一種光學檢測系統，主要包括檢測臺、照明組件、物鏡組件、圖像傳感器和直線移動組件，其中的直線移動組件用于調節物鏡組件在預設直線方向上的移動位置，該物鏡組件的移動位置用于改變檢測光的偏移距離，通過修正檢測光可使光學圖像對準于預設的...

本實用新型公開了一種翻轉設備，該翻轉設備，包括機架、第一升降機構、翻轉機構以及第二升降機構，第一升降機構在豎直方向上運動，使第一固定組件下降固定物料，而后帶動升起固定有物料的第一固定組件至豎直方向的上端處，此處即為第一升降機構的待取件位...

一種吸附裝置，包括吸附件及具有承載面和氣孔結構的承載件，承載面用于承載工件；氣孔結構貫通承載面設置，并在承載面上圍合形成定位區；氣孔結構用于吸附工件，以將工件的待檢測區固定于定位區內；吸附件設置于承載件并位于氣孔結構外，用于吸附固定工件...

一種對準定位裝置，包括承載組件和定位組件，定位組件包括兩個第一定位組件和兩個第二定位組件；兩個第一定位組件被配置成沿第一方向在承載組件上相對靠近移動和相對遠離移動；兩個所述第二定位組件被配置成沿第二方向在承載組件上相對靠近移動和相對遠離...

一種載具及檢測裝置，其中，載具包括用于承載待測工件的基體件和設置于基體件的限位件，基體件具有用于基體件避讓待測工件的待處理部位的避讓結構，限位件用于將待測工件的待處理部位限定在與避讓結構對應的位置。一方面，利用限位件將待處理部位為限定在...

一種固定裝置及旋轉裝置，其中，固定裝置包括定位聯接機構、用于固定探頭本體的第一固定機構和用于固定探頭線束的第二固定機構，定位聯接機構在軸向上的一端連接第一固定機構、另一端連接第二固定機構，以使得第一固定機構與第二固定機構沿軸向間隔相對并...

本發明公開了一種光學檢測系統，包括光源組件、第一光處理組件和分光組件，第一光處理組件包括第一探測件和第二探測件，第一探測件和第二探測件用于接收并分析光源組件經待測物散射的第一光線，分光組件包括第一分光件，第一分光件至少包括第一調節狀態和...

本申請公開了一種自動下料設備，該自動下料設備包括取料裝置、翻轉裝置、回收料倉裝置和下料裝置。其中，翻轉裝置包括翻轉承載件、翻轉轉動件和翻轉驅動組件。在進行下料工作時，先通過取料裝置從前工序設備上提取零件，并將零件以第一姿態運送至承接工位...

本發明實施例公開的缺陷檢測方法例如包括：獲取初始待測圖像；獲取所述初始待測圖像在目標旋轉角度下對應的目標檢測圖像的信號強度分布數據集；根據所述信號強度分布數據集確定所述目標檢測圖像的第一缺陷信息；根據所述第一缺陷信息、所述目標旋轉角度和...

本實用新型實施例公開的一種夾持裝置和承載設備。所述夾持裝置例如包括：基座；轉臺，包括轉臺主體和夾持件轉軸；所述轉臺主體連接在所述基座上，所述夾持件轉軸設置在所述轉臺主體遠離所述基座的第一側面；夾持組件，設置有轉孔，所述轉孔套設在所述夾持...

本申請公開了一種位移裝置、鏡頭組件及檢測設備，所述位移裝置通過所述第一推桿推動所述內框框架，能夠帶動所述內框框架沿著所述第一導向框的內側壁的延伸方向進行移動，從而通過所述第一導向框限制所述內框框架的移動方向，并且在所述內框框架移動過程中...

一種檢測裝置，包括：照明模塊，用于產生照射至待測物的入射光，入射光的入射角小于45度或大于45度，入射光經待測物形成探測光；成像模塊，包括沿光路傳輸方向依次設置的成像組件和圖像采集組件，圖像采集組件用于接收經過成像組件的探測光，并根據探...

本申請公開了一種加工方法、加工裝置及非易失性計算機可讀存儲介質，加工方法包括：獲取機臺的操作界面的顯示圖像，顯示圖像顯示至少部分工件及切刀標志線，切刀標志線中的中心標識線表征切刀的切割中心線；識別顯示圖像中的切刀標志線中的中心標識線；獲...

一種定位槽的檢測方法、系統、終端設備以及存儲介質，檢測方法,包括：獲取待測件的正面的第一預設區域對應的至少一張第一檢測圖像；根據第一檢測圖像，識別出在第一檢測圖像中的切割道；根據切割道確定待測件的四個第一檢測區域；獲取待測件的四個第一檢...

本發明實施例公開一種校準方法及相關裝置，檢測設備包括平臺、承載裝置、移動組件以及四個第一傳感器，其中，兩個第一傳感器沿第一基準線相對設置，另外兩個第一傳感器沿第二基準線相對設置，承載裝置通過移動組件與平臺連接，第一傳感器與平臺連接，校準...

本發明提供了一種檢測設備及方法，該檢測設備通過第一探測裝置待測元件表面反射的第一回波光和第二回波光發生干涉后形成的信號光，得到待測元件上采樣位置對應的信號光的第一光強分布信息，以進一步根據該強度分布得到信號光的相位分布，從而得到待測元件...

本申請提供一種承載裝置及檢測設備。承載裝置包括基座、承載件及定位組件。基座包括相背的第一側與第二側，基座設有貫穿第一側與第二側的通孔，第一側設有與通孔間隔的吸附槽。承載件設有承載面及與承載面相背的貼合面，承載面設有吸附孔，吸附孔用于將工...

本發明公開了一種控制方法和檢測裝置，檢測裝置包括腔體、移動組件、承載組件和至少兩個測距傳感器，腔體形成有腔室，移動組件位于腔室內，承載組件連接移動組件，移動組件用于驅動承載組件移動，承載組件包括吸盤，至少兩個測距傳感器安裝在吸盤的預設位...