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        深圳中科飛測(cè)科技股份有限公司專(zhuān)利技術(shù)

        深圳中科飛測(cè)科技股份有限公司共有979項(xiàng)專(zhuān)利

        • 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種光束穩(wěn)定系統(tǒng)及檢測(cè)設(shè)備,激光光源發(fā)出的光線(xiàn)依次經(jīng)過(guò)第一反射鏡、第二反射鏡、第三反射鏡、第四反射鏡后傳出光束穩(wěn)定系統(tǒng);光線(xiàn)經(jīng)過(guò)第二反射鏡后,部分光線(xiàn)透射經(jīng)過(guò)第二反射鏡,并傳輸至第一探測(cè)器;光線(xiàn)經(jīng)過(guò)第四反射鏡后,部分光線(xiàn)透射...
        • 一種載片臺(tái)平整度的調(diào)節(jié)方法及裝置,載片臺(tái)包括多個(gè)支撐柱,支撐柱用于承載待承載物,調(diào)平方法包括:根據(jù)第一區(qū)域,能夠快速有針對(duì)性的鎖定待承載物的操作區(qū),通過(guò)預(yù)調(diào)節(jié)處理,改變目標(biāo)支撐柱和圖像獲取裝置之間的距離,使得待承載物表面處在圖像獲取裝置...
        • 一種待測(cè)物的聚焦方法及聚焦系統(tǒng)、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì),聚焦方法包括:獲取待測(cè)物在不同聚焦高度下的標(biāo)定圖像;根據(jù)標(biāo)定圖像獲取每層標(biāo)定圖形的第一聚焦度參數(shù)與聚焦高度的分布關(guān)系,分布關(guān)系為高斯分布;分別對(duì)多層標(biāo)定圖形的分布關(guān)系求對(duì)數(shù)后進(jìn)行加權(quán)處理,...
        • 本申請(qǐng)公開(kāi)了激光發(fā)生裝置及激光器,所述激光發(fā)生裝置包括光源組件、多個(gè)倍頻晶體以及多個(gè)加熱裝置,所述倍頻晶體與所述加熱裝置一一對(duì)應(yīng)設(shè)置,所述加熱裝置用于其對(duì)應(yīng)的所述倍頻晶體進(jìn)行加熱。通過(guò)在所述激光發(fā)生裝置中設(shè)置多個(gè)倍頻晶體以及多個(gè)加熱裝置...
        • 一種裝夾組件以及檢測(cè)設(shè)備,裝夾組件包括底座、承托組件以及至少一個(gè)壓緊組件;承托組件以及壓緊組件均設(shè)在底座上;承托組件用于承托和定位待測(cè)工件;壓緊組件用于在待測(cè)工件被承托組件承托后,施加預(yù)設(shè)壓力于待測(cè)工件的待測(cè)面的可接觸部位上,使待測(cè)工件...
        • 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種多工位檢測(cè)設(shè)備,該多工位檢測(cè)設(shè)備,包括多個(gè)工裝組件、檢測(cè)組件、多個(gè)第一運(yùn)動(dòng)平臺(tái)以及第二運(yùn)動(dòng)平臺(tái)等,開(kāi)始檢測(cè)時(shí)各第一運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上帶動(dòng)待測(cè)件運(yùn)動(dòng)從第一端部向第二端部移動(dòng),由于第一檢測(cè)系統(tǒng)比第二檢測(cè)系統(tǒng)更加靠近第一端部,因此...
        • 一種檢測(cè)方法和檢測(cè)系統(tǒng),檢測(cè)方法包括:通過(guò)照明模塊產(chǎn)生入射光,入射光經(jīng)待測(cè)物后形成信號(hào)光;利用第一鏡組收集信號(hào)光,并使信號(hào)光到達(dá)成像模塊;利用成像模塊的探測(cè)器根據(jù)信號(hào)光對(duì)第一鏡組的監(jiān)測(cè)面進(jìn)行成像,獲取監(jiān)測(cè)面的第一圖像,其中,監(jiān)測(cè)面為第一...
        • 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及非易失性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。檢測(cè)方法包括:控制傳動(dòng)件帶動(dòng)掃描件在第一原點(diǎn)位置和第二原點(diǎn)位置之間移動(dòng),以?huà)呙璐郎y(cè)件。本申請(qǐng)檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及非易失性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中,傳動(dòng)件可帶...
        • 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N處理設(shè)備及工件的處理方法。該處理設(shè)備包括加熱氣路系統(tǒng)。該加熱氣路系統(tǒng)用于對(duì)工件的待清潔區(qū)吹掃加熱氣體,所述加熱氣體用于對(duì)待清潔區(qū)進(jìn)行加熱,并通過(guò)吹掃去除待清潔區(qū)的污染層。本申請(qǐng)的處理設(shè)備及工件的處理方法中,加熱氣路系統(tǒng)能夠...
        • 本發(fā)明提供一種檢測(cè)設(shè)備,其中,所述檢測(cè)設(shè)備包括:發(fā)光裝置,用于產(chǎn)生照射待測(cè)物的入射光,所述入射光用于在所述圖案標(biāo)記表面形成圖案光斑,所述待測(cè)物表面具有圖案標(biāo)記,所述圖案光斑用于與所述圖案標(biāo)記形成莫爾條紋,所述圖案光斑包括多個(gè)條紋光斑,所...
        • 本發(fā)明提供一種檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法,其中,所述檢測(cè)設(shè)備包括:發(fā)光裝置,用于產(chǎn)生照射待測(cè)物的入射光,所述入射光用于在所述圖案標(biāo)記表面形成圖案光斑,所述待測(cè)物表面具有圖案標(biāo)記,所述圖案光斑用于與所述圖案標(biāo)記形成莫爾條紋,所述圖案光斑包括多個(gè)條...
        • 本發(fā)明提供一種檢測(cè)設(shè)備,其中,所述檢測(cè)設(shè)備包括:發(fā)光裝置,用于產(chǎn)生照射待測(cè)物的入射光,所述待測(cè)物表面具有圖案標(biāo)記,所述圖案標(biāo)記包括條紋標(biāo)記,所述入射光用于在所述圖案標(biāo)記表面形成圖案光斑,所述圖案光斑包括條紋光斑,所述條紋光斑用于與所述條...
        • 一種載片臺(tái)平整度的調(diào)節(jié)方法及其裝置,載片臺(tái)包括多個(gè)支撐柱,支撐柱用于承載待承載物,方法包括:獲得待承載物的圖像信息;根據(jù)圖像信息及預(yù)設(shè)參數(shù)獲取第一區(qū)域;確定第一區(qū)域?qū)?yīng)的至少一個(gè)目標(biāo)支撐柱;對(duì)目標(biāo)支撐柱進(jìn)行調(diào)節(jié)處理。本發(fā)明實(shí)施例,原始圖...
        • 一種載片臺(tái)平整度的調(diào)節(jié)方法及裝置,載片臺(tái)包括多個(gè)支撐柱,支撐柱用于承載待承載物,方法包括:獲取待承載物的異常區(qū)域及與異常區(qū)域?qū)?yīng)的異常支撐柱;獲得異常支撐柱對(duì)待承載物的作用區(qū)域;獲得異常區(qū)域與作用區(qū)域的交疊面積;根據(jù)交疊面積獲取異常支撐...
        • 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種挖孔屏幕缺陷檢測(cè)方法,該方法包括:首先獲取屏幕檢測(cè)圖像,其中,屏幕檢測(cè)圖像包括檢測(cè)區(qū)和挖孔區(qū),檢測(cè)區(qū)和挖孔區(qū)為共心的中心對(duì)稱(chēng)圖形,挖孔區(qū)位于檢測(cè)區(qū)內(nèi)部。再在屏幕檢測(cè)圖像上獲取檢測(cè)區(qū)的中心點(diǎn)的位置信息,以沿檢測(cè)區(qū)的中心點(diǎn)對(duì)...
        • 本發(fā)明公開(kāi)了一種光源組件及具有該光源組件的檢測(cè)裝置,所述光源組件包括發(fā)光件、通光窗口以及半反半透鏡,所述通光窗口具有處于同一軸線(xiàn)上的第一出光口和第二出光口,所述半反半透鏡與所述第一出光口和所述第二出光口的軸線(xiàn)呈45度夾角設(shè)置;所述發(fā)光件...
        • 本申請(qǐng)的檢測(cè)方法包括根據(jù)預(yù)設(shè)模板確定待測(cè)件的圖像上的待測(cè)區(qū)域;以小波變換的方式處理所述待測(cè)區(qū)域,以得到待測(cè)圖像;及依據(jù)所述待測(cè)圖像的信息,獲取所述待測(cè)件的缺陷信息。本申請(qǐng)的檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備和非易失性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),通過(guò)預(yù)...
        • 一種聚焦方法及系統(tǒng)、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì),聚焦方法包括:在第一預(yù)設(shè)拍攝高度區(qū)域內(nèi),以第一預(yù)設(shè)步長(zhǎng)對(duì)待測(cè)物在不同的第一拍攝高度位置處進(jìn)行拍攝,獲取多張第一圖像;根據(jù)多張第一圖像獲取多個(gè)與第一拍攝高度一一對(duì)應(yīng)的聚焦度參數(shù),用于表征第一圖像的聚焦質(zhì)...
        • 本實(shí)用新型公開(kāi)一種固定裝置,所述固定裝置包括吸盤(pán)和泄氣通道;所述吸盤(pán)設(shè)有氣腔,所述氣腔通過(guò)所述泄氣通道泄氣;所述吸盤(pán)設(shè)有與所述氣腔相通的檢壓孔,所述檢壓孔連通檢壓設(shè)備,通過(guò)檢壓設(shè)備檢測(cè)所述氣腔內(nèi)部的壓力;所述吸盤(pán)設(shè)有與所述氣腔相通的注氣...
        • 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N檢測(cè)裝置和檢測(cè)設(shè)備。檢測(cè)裝置包括光源、明場(chǎng)照明光纖、暗場(chǎng)照明光纖和切換模塊。明場(chǎng)照明光纖用于將光源發(fā)出的光線(xiàn)引導(dǎo)射向待測(cè)物以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行明場(chǎng)照明,暗場(chǎng)照明光纖用于將光源發(fā)出的光線(xiàn)引導(dǎo)射向待測(cè)物以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行暗場(chǎng)照明。切換模...
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