本發明提供一種圖像拼接方法、裝置、系統及存儲介質，通過獲取多個待拼接圖像；確定所述多個待拼接圖像具有至少一個重疊區域；根據重疊區域對所述多個待拼接圖像進行拼接處理，得到拼接圖像；獲取所述重疊區域中對應重疊的各個所述待拼接圖像的每個像素點...

本發明提供一種檢測設備，用于檢測待測物體，該待測物體具有待測對象，該檢測設備包括：邊檢光源裝置用于向待測對象邊緣提供檢測光束，檢測光束經待測對象形成信號光；探測裝置用于收集信號光，根據信號光獲取待測對象邊緣輪廓，其中，檢測光束的中心軸線...

本實用新型的公開了一種檢測裝置，包括光源模塊、圖像獲取模塊和載物臺，載物臺用于承載待測物，光源模塊用于向待測物的檢測區域提供檢測光，圖像獲取模塊用于獲取檢測區域的圖像。其中，圖像獲取模塊包括至少一個圖像采集通道，每個圖像采集通道包括圖像...

本申請公開了一種待測物檢出缺陷的聚類方法、裝置、設備及存儲介質，該聚類方法根據待測物中各缺陷外接矩形的位置信息，將待測物中的各缺陷劃分為至少一個聚類簇，其中，在一個聚類簇中，對于任一缺陷，至少有另一缺陷的外接矩形的位置信息與所述任一缺陷...

本申請公開了缺陷檢測方法及相關裝置，缺陷檢測檢測設備獲取待測件的原始圖像；根據第一預設閾值與第二預設閾值對原始圖像進行二值化處理，并得到二值化圖像；根據預設模板圖像對二值化圖像處理，并得到檢測圖像；確定檢測圖像中缺陷特征的缺陷面積；當缺...

本發明提供一種隔振裝置的啟動控制方法、裝置及自動隔振設備，由于接收啟動指令；響應于啟動指令，控制隔振裝置進入浮起狀態；在隔振裝置進入浮起狀態之后，控制隔振裝置進入被動隔振狀態；在隔振裝置進入被動隔振狀態之后，控制隔振裝置進入主動隔振狀態...

本實用新型公開了一種檢測設備，其包括安裝主體，安裝主體設置有至少兩個檢測裝置，每個檢測裝置均包括定位裝置和至少一個檢測單元，定位裝置用于支撐待測物，所述檢測單元用于將預定波長的光傳導至相應所述定位裝置支撐的待測物的待測面以用于對待測面進...

本申請提供一種清潔裝置及檢測設備。清潔裝置包括安裝板、吹氣組件及集氣組件。吹氣組件連接于安裝板，吹氣組件包括吹掃件及噴嘴，噴嘴安裝于吹掃件，噴嘴用于通過吹掃件朝待處理件的待處理區域提供氣體。集氣組件連接于安裝板，集氣組件包括集氣件及吸嘴...

本申請公開了一種檢測方法、檢測裝置、檢測設備及非易失性計算機可讀存儲介質。檢測方法包括：識別待測件圖像中的多個重復圖像區域；獲取目標圖像區域中，目標像素的目標像素值、和目標圖像區域周圍多個重復圖像區域中，與目標像素的位置對應的參考像素的...

本申請公開了一種檢測裝置及檢測方法，檢測裝置包括第一探測器和第二探測器；第一探測器的第一視場區域覆蓋待測物表面的第一區域，第一探測器用于對第一區域進行成像，獲取第一區域的圖像；第二探測器的第二視場區域覆蓋待測物表面的第二區域，第二探測器...

本申請公開了一種檢測設備，檢測設備用于檢測工件，工件包括相鄰的第一面和第二面，檢測設備包括第一檢測工位、第一檢測組件、第二檢測工位、第二檢測組件及承載組件，第一檢測工位裝設有第一檢測組件，第一檢測組件用于檢測第一面；第二檢測工位裝設有第...

本實用新型提供一種運輸裝置及檢測設備。運輸裝置包括移動組件、升降組件和承載組件。移動組件包括多個驅動件和多個滾輪，驅動件連接滾輪，驅動件用于驅動滾輪轉動以使得運輸裝置在第一方向或第二方向運動，第一方向與第二方向相交；升降組件安裝在移動組...

本實用新型公開了一種承載裝置及檢測設備，所述晶圓承載裝置包括承載本體與多個限位件，所述多個限位件沿所述承載本體的周側設置，所述限位件包括支撐柱與限位凸臺，所述限位凸臺用于避免晶圓在所述晶圓承載裝置上發生移動，所述限位凸臺包括第一限位面與...

本申請公開了一種校準片。校準片包括本體，在本體上設置有至少兩個校準區域，至少兩個校準區域用于校準光學測量系統的對焦位置、校準光學測量系統的反射率檢測精度、校準光學測量系統檢測的光斑、校準光學測量系統的關鍵尺寸、校準光學測量系統的臺階檢測...

本申請實施例公開了一種光學器件調整裝置，用于對光學器件的俯仰角進行精密調整。本申請實施例中的光學器件調整裝置，包括：俯仰角調節機構；所述俯仰角調節機構包括第一調節板、第二調節板和滾珠，所述第一調節板與所述第二調節板相面對的連接面中均具有...

本申請公開了一種校準片，所述校準片包括校準片本體以及至少一個校準標記，所述校準片本體設有定位缺口，所述校準標記包括直角陣列和校準點陣列中的至少一個，所述校準點陣列包括至少一個校準點標記。所述校準標記設置在所述校準片上的特定位置，在通過所...

本申請公開了一種校準片、校準裝置及校準系統，校準片應用于檢測裝置，所述校準片沿第一方向依次包括第一校準區域、第二校準區域以及第三校準區域；所述第一校準區域包括多個第一條紋，多個所述第一條紋沿第二方向間隔設置，所述第二方向與所述第一方向垂...

本申請公開了一種翹曲校正裝置及檢測設備。翹曲校正裝置包括按壓件，按壓件包括按壓部和第一密封圈。按壓部設有吹氣單元，第一密封圈設于按壓部，第一密封圈環繞吹氣單元，用于與工件接觸，并與工件及按壓部共同形成密封空間。其中，通過吹氣單元能夠朝密...

一種光學調整架，包括調節部和支撐部，支撐部用于安裝光學元件，調節部和支撐部中的一個具有類“V”形第一滑槽、另一個具有匹配類“V”形第一滑槽的類“V”形第一滑塊，類“V”形第一滑塊嵌設于類“V”形第一滑槽，以與類“V”形第一滑槽滑動連接，...

一種檢測設備，包括用于承載待檢工件的承載裝置、用于驅使承載裝置繞第一軸線旋轉的驅動裝置以及布置于承載裝置的上方空間的檢測裝置；其中，檢測裝置包括用于發射檢測光以照射待檢工件表面的光發射件、用于供人眼觀測待檢工件表面的觀測窗口以及布置于觀...